标准详情
| 标准名称: | 微波电路 电调衰减器测试方法 |
|---|---|
| 标准号: | GB/T 42744-2023 |
| 中国标准分类号: | L56 |
| 发布日期: | 2023-08-06 |
| 国际标准分类号: | 31.200 |
| 实施日期: | 2024-03-01 |
| 技术归口: | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 代替标准: | |
| 批准发布部门: | 工业和信息化部(电子) |
| 标准分类: | 电子学集成电路微电子学 |
内容简介
国家标准《微波电路 电调衰减器测试方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。本文件描述了微波电路类的电调衰减器主要电参数的测试方法。本文件适用于单片和混合集成的微波电调衰减器(以下简称衰减器)的相关电参数测试。
起草单位
成都亚光电子股份有限公司、安徽省中智科标准化研究院有限公司、中国电子技术标准化研究院、安徽明洋电子有限公司、空军装备部驻成都地区军事代表局、
起草人
隆慧、杨晓瑜、汤朔、周俊、范富宏、刘峋、侯林、刘影影、陈敏、孟泽、何亚平、王昊、付江蔚、
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