标准详情
| 标准名称： | 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法 |
|---|---|
| 标准号： | GB/T 42907-2023 |
| 中国标准分类号： | H21 |
| 发布日期： | 2023-08-06 |
| 国际标准分类号： | 77.040 |
| 实施日期： | 2024-03-01 |
| 技术归口： | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会 |
| 代替标准： | |
| 批准发布部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 标准分类： | 冶金金属材料试验 |
内容简介
国家标准《硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。本文件描述了用非接触式涡流感应法测试太阳能电池用单晶硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的方法。本文件适用于非平衡载流子复合寿命在0.1μs~10000μs、电阻率在0.1Ω·cm~10000Ω·cm的硅锭、硅块和硅片的测试。其中瞬态光电导衰减法适用于非平衡载流子复合寿命小于100μs时硅锭、硅块和硅片的测试，准稳态光电导法适用于非平衡载流子复合寿命大于200μs时硅锭、硅块和硅片的测试，非平衡载流子复合寿命在100μs~200μs时，两种测试方法均适用。
起草单位
TCL中环新能源科技股份有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、浙江海纳半导体股份有限公司、四川永祥光伏科技有限公司、弘元新材料（包头）有限公司、宜昌南玻硅材料有限公司、内蒙古中环晶体材料有限公司、
起草人
张雪囡、王林、杨阳、邓浩、郭红强、张石晶、赵军、王建平、李向宇、刘文明、赵子龙、潘金平、李寿琴、
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