检测项目(部分)
光折射率、反射率、透光性能、强度、耐候性、老化试验等。
检测标准(部分)
SJ 21536-2018 微波功率器件及集成电路用砷化镓外延片规范
SJ 21535-2018 电力电子器件用碳化硅外延片规范
SJ 21534-2018 微波功率器件用氮化镓外延片规范
SJ 21493-2018 碳化硅外延片表面缺陷测试方法
SJ 20514A-2018 微波功率晶体管用硅外延片规范
T/ICMTIA SM006-2021 集成电路线宽65nm-14nm逻辑工艺用300mm P/P-型硅外延片
T/CASAS 003-2018 p沟道IGBT器件用4H碳化硅外延晶片
T/IAWBS 002-2017 碳化硅外延片表面缺陷测试方法
GB/T 14139-2019 硅外延片
GB/T 14139-2019 硅外延片
GB/T 37053-2018 氮化镓外延片及衬底片通用规范
SJ/T 11470-2014 发光二极管外延片
SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法
GB/T 35310-2017 200mm硅外延片
GB/T 35308-2017 太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片
GB/T 30854-2014 LED发光用氮化镓基外延片
GB/T 30856-2014 LED外延芯片用砷化镓衬底
GB/T 30855-2014 LED外延芯片用磷化镓衬底
GB/T 30653-2014 Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法
GB/T 30654-2014 Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法
检测样品(部分)
LED外延片、硅外延片、芯片外延片、半导体外延片、碳化硅外延片、晶圆外延片、激光外延片等。
旗下实验室资质
我司旗下实验室具备CMA资质认定及CNAS认可和ISO认证等证书,具体项目是否在资质认定/实验室认可范围内请与工程师确认。









