标准详情
| 标准名称： | 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM） |
|---|---|
| 标准号： | GB/T 4937.26-2023 |
| 中国标准分类号： | L40 |
| 发布日期： | 2023-09-07 |
| 国际标准分类号： | 31.080.01 |
| 实施日期： | 2024-04-01 |
| 技术归口： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 代替标准： | |
| 批准发布部门： | 工业和信息化部（电子） |
| 标准分类： | 半导体分立器件电子学半导体分立器件综合 |
内容简介
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。本文件依据元器件和微电路对规定的人体模型（HBM）静电放电（ESD）所造成损伤或退化的敏感度，建立了元器件和微电路的ESD测试、评价和分级程序。本文件的目的是建立一种能够复现HBM失效的测试方法，并为不同类型的元器件提供可靠、可重复的HBM ESD测试结果，且测试结果不因测试设备而改变。重复性数据可以保证HBMESD敏感度等级的准确划分及对比。半导体器件的ESD测试从本测试方法、机器模型（MM）测试方法（见IEC 60749-27）或IEC 60749（所有部分）中的其他ESD测试方法中选择。除另有规定外，本测试方法为所选方法。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、安徽荣创芯科自动化设备制造有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司、河北北芯半导体科技有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、捷捷半导体有限公司、
起草人
高蕾、 张魁、 翟玉颖、 彭浩、 黄杰、 赵鹏、 黎重林、 颜天宝、 鲁世斌、迟雷、高金环、张瑞霞、徐昕、魏兵、金哲、
