标准详情
| 标准名称： | 纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量 透射电镜图像法 |
|---|---|
| 标准号： | GB/T 42208-2022 |
| 中国标准分类号： | N33 |
| 发布日期： | 2022-12-30 |
| 国际标准分类号： | 17.180.01 |
| 实施日期： | 2023-07-01 |
| 技术归口： | 全国纳米技术标准化技术委员会 |
| 代替标准： | |
| 批准发布部门： | 中国科学院 |
| 标准分类： | 物理现象计量学和测量光学和光学测量光学和光学测量综合 |
内容简介
国家标准《纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量 透射电镜图像法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。本文件描述了利用透射电子显微镜图像处理和分析技术进行纳米颗粒在多相体系中分散的粒径测量方法。本文件适用于固相多相体系中纳米颗粒的粒径测量和粒径分布。本文件也适用于在样品制备满足透射电子显微镜观察要求时的胶体和生物组织中纳米颗粒粒径测量。
起草单位
国家纳米科学中心、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京市理化分析测试中心）、中国计量大学、国标（北京）检验认证有限公司、深圳市德方纳米科技股份有限公司、北京粉体技术协会、
起草人
常怀秋、付新、杜志伟、白露、郑强、孙言、齐笑迎、李婷、韩小磊、高原、张淑琴、
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