标准详情
| 标准名称： | 电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理 |
|---|---|
| 标准号： | GB/T 42706.2-2023 |
| 中国标准分类号： | L40 |
| 发布日期： | 2023-05-23 |
| 国际标准分类号： | 31.020 |
| 实施日期： | 2023-09-01 |
| 技术归口： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 代替标准： | |
| 批准发布部门： | 工业和信息化部（电子） |
| 标准分类： | 电子学电子元器件综合 |
内容简介
国家标准《电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。本文件描述了电子元器件在实际贮存条件下随时间推移的退化机理和退化方式，以及评估一般退化机理的试验方法。通常本文件与IEC 62435-1一起使用，用于预计贮存时间超过12个月的长期贮存器件。特定类型电子元器件的退化机理在IEC 62435-5~IEC 62435-9中加以规定。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、池州华宇电子科技有限公司、深圳市标准技术研究院、绵阳迈可微检测技术有限公司、惠州市特创电子科技股份有限公司、河北北芯半导体科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、武汉格物芯科技有限公司、佛山市毅丰电器实业有限公司、
起草人
刘玮、石东升、闫萌、张鑫、魏兵、赵鹏、米村艳、何黎、晋李华、彭勇、彭浩、崔波、麦日容、徐昕、陈金星、吴卫斌、
以上仅展示部分信息，如需检测请联系在线工程师。
