标准详情
| 标准名称： | 半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的） |
|---|---|
| 标准号： | GB/T 4937.31-2023 |
| 中国标准分类号： | L40 |
| 发布日期： | 2023-05-23 |
| 国际标准分类号： | 31.080.01 |
| 实施日期： | 2023-12-01 |
| 技术归口： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 代替标准： | |
| 批准发布部门： | 工业和信息化部（电子） |
| 标准分类： | 电子学半导体分立器件半导体分立器件综合 |
内容简介
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。本文件适用于半导体器件(分立器件和集成电路)，以下简称器件。本文件用于确定器件是否由于过负荷引起内部发热而燃烧。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、安徽钜芯半导体科技有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、山东省中智科标准化研究院有限公司、河北北芯半导体科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、绵阳迈可微检测技术有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司、
起草人
裴选、彭浩、席善斌、魏兵、米村艳、李明钢、张魁、曹孙根、赵鹏、徐昕、颜天宝、
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