标准详情
| 标准名称： | MEMS压阻式压力敏感器件性能试验方法 |
|---|---|
| 标准号： | GB/T 42191-2023 |
| 中国标准分类号： | L59 |
| 发布日期： | 2023-05-23 |
| 国际标准分类号： | 31.080.99 |
| 实施日期： | 2023-09-01 |
| 技术归口： | 全国微机电技术标准化技术委员会 |
| 代替标准： | |
| 批准发布部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 标准分类： | 电子学半导体分立器件其他半导体分立器件 |
内容简介
国家标准《MEMS压阻式压力敏感器件性能试验方法》由TC336（全国微机电技术标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。本文件描述了 MEMS 压阻式压力敏感器件试验条件和试验方法。本文件适用于 MEMS 压阻式压力敏感器件。
起草单位
北京大学、北京智芯传感科技有限公司、厦门光莆电子股份有限公司、宁波志伦电子有限公司、华东光电集成器件研究所、南京高华科技股份有限公司、湖南国天电子科技有限公司、广州JianCe检测股份有限公司、深圳安培龙科技股份有限公司、中机生产力促进中心有限公司、昆山昆博智能感知产业技术研究院有限公司、江门市润宇传感器科技有限公司、广州奥松电子股份有限公司、深圳市美思先端电子有限公司、中国科学院微电子研究所、南京沃天科技股份有限公司、武汉飞恩微电子有限公司、昆山传感器测控技术有限公司、
起草人
张威、顾枫、李宋、张亚婷、林瑞梅、李树成、王鹏、李晓波、陈路、高峰、陈君杰、王冰、李根梓、陈广忠、张良、陈立国、茅曙、张宾、许宙、王玮冰、明志茂、曹万、
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