标准详情
| 标准名称： | 半导体集成电路 驱动器测试方法 |
|---|---|
| 标准号： | GB/T 42975-2023 |
| 中国标准分类号： | L56 |
| 发布日期： | 2023-09-07 |
| 国际标准分类号： | 31.200 |
| 实施日期： | 2024-01-01 |
| 技术归口： | 全国集成电路标准化技术委员会 |
| 代替标准： | |
| 批准发布部门： | 工业和信息化部（电子） |
| 标准分类： | 电子学集成电路微电子学 |
内容简介
国家标准《半导体集成电路 驱动器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。本文件规定了半导体集成电路驱动器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、 LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。其他类 别驱动器的测试参考使用。
起草单位
中国电子技术标准化研究院、安徽大华半导体科技有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、中国电子科技集团公司第二十四研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所、成都振芯科技股份有限公司、
起草人
刘芳、周俊、刘凡、霍玉柱、梁希、王会影、杨晓强、纵雷、林瑜攀、陆坚、
以上仅展示部分信息，如需检测请联系在线工程师。
