标准详情
| 标准名称： | 集成电路 CMOS图像传感器测试方法 |
|---|---|
| 标准号： | GB/T 43063-2023 |
| 中国标准分类号： | L54 |
| 发布日期： | 2023-09-07 |
| 国际标准分类号： | 31.200 |
| 实施日期： | 2024-01-01 |
| 技术归口： | 全国集成电路标准化技术委员会 |
| 代替标准： | |
| 批准发布部门： | 工业和信息化部（电子） |
| 标准分类： | 电子学集成电路微电子学 |
内容简介
国家标准《集成电路 CMOS图像传感器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。本文件描述了具有线性光电响应特性的线阵、而阵和时间延迟积分（TDI）CMOS图像传感器（以下简称器件）参数及其测试方法。本文件适用于具有线性光电响应特性的线阵、面阵和TDI器件参数测试。
起草单位
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、天津大学、中国电子技术标准化研究院、重庆光电技术研究所、长春精测光电技术有限公司、深圳佑驾创新科技有限公司、
起草人
李俊霖、张涛、赵宇、聂真威、马洪涛、卢岩、唐延甫、聂凯明、马悦、刘国清、兰太吉、杨永强、韩冰、金辉、徐江涛、刘昌举、李金、高志远、王琪、刘秀娟、
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