标准详情
| 标准名称: | 集成电路 CMOS图像传感器测试方法 |
| 标准号: | GB/T 43063-2023 |
| 中国标准分类号: | L54 |
| 发布日期: | 2023-09-07 |
| 国际标准分类号: | 31.200 |
| 实施日期: | 2024-01-01 |
| 技术归口: | 全国集成电路标准化技术委员会 |
| 代替标准: | |
| 批准发布部门: | 工业和信息化部(电子) |
| 标准分类: | 电子学集成电路微电子学 |
内容简介
国家标准《集成电路 CMOS图像传感器测试方法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。本文件描述了具有线性光电响应特性的线阵、而阵和时间延迟积分(TDI)CMOS图像传感器(以下简称器件)参数及其测试方法。本文件适用于具有线性光电响应特性的线阵、面阵和TDI器件参数测试。
起草单位
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、天津大学、中国电子技术标准化研究院、重庆光电技术研究所、长春精测光电技术有限公司、深圳佑驾创新科技有限公司、
起草人
李俊霖、张涛、赵宇、聂真威、马洪涛、卢岩、唐延甫、聂凯明、马悦、刘国清、兰太吉、杨永强、韩冰、金辉、徐江涛、刘昌举、李金、高志远、王琪、刘秀娟、
以上仅展示部分信息,如需检测请联系在线工程师。
检测流程
1、北检(北京)检测技术研究院接到客户的检测委托。
2、客户进行寄送样品,提供需求。
3、工程师针对样品情况进行报价。
4、了解客户检测需求,确定检测项目,签署保密协议书,进行检测。
5、实验过程中根据客户需求不断调整实验。
6、7-15个工作日内完成检测试验。
7、出具检测报告书。
8、工程师进行售后相关服务。
检测报告作用
1、能够为相关科学研究论文提供数据,提供数据科学依据。
2、可以为产品的质量进行把控,提升产品品质,为企业减少成本。
3、检测报告能够提供给产品进出口的数据使用。
4、在同质量的产品上,拥有检测报告的产品比其他产品更有信服力。
检测优势
1、北检(北京)检测技术研究院可以针对材料、性能、气体、产品、设备等进行检测、分析、试验、测试等服务。
2、拥有多家分支实验室,能够及时的响应客户需求。
3、拥有齐全的检测仪器和检测设备,可以针对相关样品进行全方位检测。
4、所有检测试验全部签订保密协议,最大程度保护客户的隐私。
5、检测周期短、数据科学严谨、公平公正。
6、支持客户寄送样品进行检测,如有不方便寄送的样品可选择上门检测。
检测实验室(部分)
结语
以上为GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法的检测服务介绍,如有其他疑问可联系在线工程师!