标准详情
| 标准名称： | 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法 |
|---|---|
| 标准号： | GB/T 43226-2023 |
| 中国标准分类号： | V25 |
| 发布日期： | 2023-09-07 |
| 国际标准分类号： | 49.140 |
| 实施日期： | 2024-01-01 |
| 技术归口： | 全国宇航技术及其应用标准化技术委员会 |
| 代替标准： | |
| 批准发布部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 标准分类： | 航空器和航天器工程航天系统和操作装置 |
内容简介
国家标准《宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口，TC425SC2（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
起草单位
北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院、
起草人
赵元富、陈雷、郑宏超、李哲、陈淼、王汉宁、王亮、岳素格、林建京、李永峰、
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