检测项目(部分)
- 总位错密度
- 晶界滑移起始应力
- 应变硬化指数
- 显微硬度
- 疲劳裂纹扩展速率
- 压缩屈服强度
- 微观应力松弛指数
- 位错密度平均值
- 位错密度分布曲线
- 位错密度变形梯度
- 晶体弹性模量变化
- 位错分布类型
- 层错密度
- 倍增位错密度
- 单位体积位错数
- 细晶粒位错密度
- 体积扭曲密度
- 位错面密度
- 晶界位错密度
- 曲率位错密度
检测样品(部分)
- 金属材料
- 半导体材料
- 陶瓷材料
- 高分子材料
- 纳米材料
- 金属合金
- 同质异相材料
- 单晶材料
- 晶界材料
- 多晶材料
- 薄膜材料
- 涂层材料
- 表面材料
- 热处理材料
- 各类纤维材料
- 复合材料
- 生物材料
- 电子材料
- 建筑材料
- 环境样品
检测标准(部分)
GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法
GB/T 8760-1988 砷化镓单晶位错密度的测量方法
SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
GB/T 8760-2006 砷化镓单晶位错密度的测量方法
T/IAWBS 014-2021 碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法
T/CASAS 013-2021 碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法
SJ/T 10557.3-1994 电解电容器用铝箔平均位错密度测量方法
GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法
GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法
GB/T 32282-2015 氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法
GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法
GB/T 33763-2017 蓝宝石单晶位错密度测量方法
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