检测项目(部分)
稳定性、电气性能、功率、耐候性、抗冲击性、强度等。
检测标准(部分)
GB/T 36360-2018 半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范
GB/T 36359-2018 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范
GB/T 36358-2018 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范
GB/T 33762-2017 有机发光二极管(OLED)电视机显示性能测量方法
GB/T 20871.61-2013 有机发光二极管显示器 第61部分:光学和光电参数测试方法
T/CVIA 59-2016 有机发光二极管(OLED)电视测量方法
T/CVIA 58-2016 有机发光二极管(OLED)电视通用技术要求
T/CSA 048-2019 普通照明用发光二极管变电流/温度 光电特性测试方法
GB/T 23729-2009 闪烁探测器用光电二极管 试验方法
GB/T 18904.5-2003 半导体器件 第12-5部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范
GB/T 18904.3-2002 半导体器件 第12-3部分:光电子器件 显示用发光二极管空白详细规范
GB/T 18904.2-2002 半导体器件 第12-2部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范
GB/T 18904.1-2002 半导体器件 第12-1部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范
SJ/T 2658.16-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第16部分:光电转换效率
SJ/T 2216-2015 硅光电二极管技术规范
SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
GB/T 36358-2018 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范
SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法
YD/T 835-1996 雪崩光电二极管检测方法
SJ 50033.57-1995 半导体光电子器件GF115型红色发光二极管详细规范
检测样品(部分)
双光电二极管、红外光电二极管、硅光电二极管、光电二极管电路、光电二极管阵列、光敏光电二极管等。









